透射/扫描透射电镜主要利用高相干度电子束与超薄样品作用产生多类信号，依靠高敏感度探头实现物质的原子级乃至亚原子级高分辨成像和高精度 谱学信息收集，在原位样品杆的支持下，还可以实现对材料在力、热、电场以及多场耦合条件下性质的原位监测。与此同时，高质量样品的制备是实现精细 电镜表征的重要前提。目前，TEM/SEM已经成为物质科学领域必不可少的研究仪器，先进电镜平台的搭建为量子材料的原子级探查以及背后物理问题的解决， 提供了不可替代的助力。

研究方向为纳米尺度下二维材料的微观结构与物性关系的原位透射电子显微学探究, 主要研究内容包括：微纳电子器件制备；二维材料纳米带的原位制备； TEM下的原子尺度观测与同步性能测量；多功能原位样品杆的设计开发。